Atomic Force Microscope – High resolution

(กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม ความละเอียดสูง)

Brand / ยี่ห้อ : Seiko Instruments

Model / รุ่น : SPI3800N / SPA400

ที่ตั้งเครื่อง : ห้อง Cleanroom อาคารวิจัยนาโนเทคโนโลยีสิริธร

หลักการทำงาน : AFM ทำงานโดยการใช้หัวอ่านซึ่งเป็นเข็มขนาดเล็กประมาณ 10 nm เป็นตัววัดแรงดึงดูดหรือแรงผลักที่เกิดขึ้นระหว่างหัวเข็มกับพื้นผิวที่ต้องการวิเคราะห์เพื่อสร้างเป็นภาพ โดยเมื่อกดหัวอ่านลงบนผื้นผิวที่จะตรวจวัด จะเกิดแรงที่กระทำต่อก้าน (Cantilever) ของหัวอ่าน จะทำให้หัวอ่านเอียงด้วยมุมต่าง ๆ กันตามสภาพความสูงต่ำของพื้นผิวซึ่งจะสามารถตรวจวัดได้จากมุมสะท้อนของลำแสงเลเซอร์ที่ยิงลงไปยังก้านของหัวอ่าน จากนั้นคอมพิวเตอร์ก็จะแปลงสัญญาณออกมาเป็นภาพของพื้นผิวที่ต้องการตรวจสอบได้

พื้นที่มากที่สุดที่สแกนได้ : 15 μm x 15 μm

ประเภทของตัวอย่าง : ของแข็ง เช่น ฟิล์ม พอลิเมอร์ (ฐานรองรับตัวอย่างมีขนาดเส้นผ่านศูนย์กลางประมาณ 2.54 cm)

Atomic Force Microscope - High resolution
Atomic Force Microscope - High resolution
Previous
Next

อัตราค่าบริการ​ทดสอบตัวอย่าง

ค่าบริการวิเคราะห์ (ต่อชั่วโมง) กรณีปกติ (บาท) กรณีเร่งด่วน/นอกเวลา (บาท)
บุคลากรวิทยาลัย
300
600
บุคคลทั่วไป/หน่วยงานของรัฐ
1,000
2,000
หน่วยงานเอกชน
2,000
4,000

ผู้ดูแลเครื่อง

sc1-2

นางสาววิษา หอมจันทร์

Email : wisa.ho@kmitl.ac.th

sc2

นายอดิศร รักมิตร

Email : adisorn.ra@kmitl.ac.th

02 329 8000 ต่อ 3108, 3121

nanoinstru@kmitl.ac.th

ศูนย์บริการเครื่องมือวิเคราะห์วัสดุและนาโนเทคโนโลยี (Nanotechnology and Material Analytical Instrument Service Unit: NMIS)

วิทยาลัยเทคโนโลยีและนวัตกรรมวัสดุ สถาบันเทคโนโลยีพระจอมเกล้าเจ้าคุณทหารลาดกระบัง 1 ฉลองกรุง 1 แขวงลาดกระบัง เขตลาดกระบัง กรุงเทพ 10520