Atomic Force Microscope – High resolution(กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม ความละเอียดสูง) Brand / ยี่ห้อ : Seiko InstrumentsModel / รุ่น : SPI3800N / SPA400ที่ตั้งเครื่อง : ห้อง Cleanroom อาคารวิจัยนาโนเทคโนโลยีสิริธรหลักการทำงาน : AFM ทำงานโดยการใช้หัวอ่านซึ่งเป็นเข็มขนาดเล็กประมาณ 10 nm เป็นตัววัดแรงดึงดูดหรือแรงผลักที่เกิดขึ้นระหว่างหัวเข็มกับพื้นผิวที่ต้องการวิเคราะห์เพื่อสร้างเป็นภาพ โดยเมื่อกดหัวอ่านลงบนผื้นผิวที่จะตรวจวัด จะเกิดแรงที่กระทำต่อก้าน (Cantilever) ของหัวอ่าน จะทำให้หัวอ่านเอียงด้วยมุมต่าง ๆ กันตามสภาพความสูงต่ำของพื้นผิวซึ่งจะสามารถตรวจวัดได้จากมุมสะท้อนของลำแสงเลเซอร์ที่ยิงลงไปยังก้านของหัวอ่าน จากนั้นคอมพิวเตอร์ก็จะแปลงสัญญาณออกมาเป็นภาพของพื้นผิวที่ต้องการตรวจสอบได้พื้นที่มากที่สุดที่สแกนได้ : 15 μm x 15 μmประเภทของตัวอย่าง : ของแข็ง เช่น ฟิล์ม พอลิเมอร์ (ฐานรองรับตัวอย่างมีขนาดเส้นผ่านศูนย์กลางประมาณ 2.54 cm) ข้อมูลเพิ่มเติม Atomic Force Microscope - High resolutionAtomic Force Microscope - High resolution Previous Next Booking อัตราค่าบริการทดสอบตัวอย่าง ค่าบริการวิเคราะห์ (ต่อชั่วโมง) กรณีปกติ (บาท) กรณีเร่งด่วน/นอกเวลา (บาท) บุคลากรวิทยาลัย 300 600 บุคคลทั่วไป/หน่วยงานของรัฐ 1,000 2,000 หน่วยงานเอกชน 2,000 4,000 ผู้ดูแลเครื่อง นางสาววิษา หอมจันทร์ Email : wisa.ho@kmitl.ac.th นายอดิศร รักมิตร Email : adisorn.ra@kmitl.ac.th 02 329 8000 ต่อ 3108, 3121 nanoinstru@kmitl.ac.th ศูนย์บริการเครื่องมือวิเคราะห์วัสดุและนาโนเทคโนโลยี (Nanotechnology and Material Analytical Instrument Service Unit: NMIS) วิทยาลัยเทคโนโลยีและนวัตกรรมวัสดุ สถาบันเทคโนโลยีพระจอมเกล้าเจ้าคุณทหารลาดกระบัง 1 ฉลองกรุง 1 แขวงลาดกระบัง เขตลาดกระบัง กรุงเทพ 10520