Atomic Force Microscope

(กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม)

Brand / ยี่ห้อ : AFMWorkshop

Model / รุ่น : TT – AFM

ที่ตั้งเครื่อง : ชั้น 3 อาคารเฉลิมพระเกียรติ 55 พรรษา สมเด็จพระเทพฯ

หลักการทำงาน : AFM ทำงานโดยการใช้หัวอ่านซึ่งเป็นเข็มขนาดเล็กประมาณ 10 nm เป็นตัววัดแรงดึงดูดหรือแรงผลักที่เกิดขึ้นระหว่างหัวเข็มกับพื้นผิวที่ต้องการวิเคราะห์เพื่อสร้างเป็นภาพ โดยเมื่อกดหัวอ่านลงบนผื้นผิวที่จะตรวจวัด จะเกิดแรงที่กระทำต่อก้าน (cantilever) ของหัวอ่าน จะทำให้หัวอ่านเอียงด้วยมุมต่าง ๆ กันตามสภาพความสูงต่ำของพื้นผิวซึ่งจะสามารถตรวจวัดได้จากมุมสะท้อนของลำแสงเลเซอร์ที่ยิงลงไปยังก้านของหัวอ่าน จากนั้นคอมพิวเตอร์ก็จะแปลงสัญญาณออกมาเป็นภาพของพื้นผิวที่ต้องการตรวจสอบได้

พื้นที่มากที่สุดที่สแกนได้ : 30 μm x 30 μm

ประเภทของตัวอย่าง : ของแข็ง เช่น ฟิล์ม พอลิเมอร์ (ขนาด 2.54 cm x 2.54 cm x 0.635 cm)

Atomic Force Microscope

อัตราค่าบริการ​ทดสอบตัวอย่าง

ค่าบริการวิเคราะห์ (ต่อชั่วโมง) กรณีปกติ (บาท) กรณีเร่งด่วน/นอกเวลา (บาท)
บุคลากรวิทยาลัย
225
450
บุคคลทั่วไป/หน่วยงานของรัฐ
750
1,500
หน่วยงานเอกชน
1,500
3,000

ผู้ดูแลเครื่อง

sc1-2

นางสาววิษา หอมจันทร์

Email : wisa.ho@kmitl.ac.th

sc2

นายอดิศร รักมิตร

Email : adisorn.ra@kmitl.ac.th

02 329 8000 ต่อ 3108, 3121

nanoinstru@kmitl.ac.th

ศูนย์บริการเครื่องมือวิเคราะห์วัสดุและนาโนเทคโนโลยี (Nanotechnology and Material Analytical Instrument Service Unit: NMIS)

วิทยาลัยนาโนเทคโนโลยีพระจอมเกล้าลาดกระบัง สถาบันเทคโนโลยีพระจอมเกล้าเจ้าคุณทหารลาดกระบัง 1 ฉลองกรุง 1 แขวงลาดกระบัง เขตลาดกระบัง กรุงเทพ 10520